fischer荧光镀层分析仪x-ray X-RAY XUL-XYm全称FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® XYm，德国*，比同系列产品FISCHERSCOPE® X-RAY XUL多了手动可调节平台。主要用于测量镀层厚度，分析镀层和溶液（电解液）的成分（成份）

型号：X-RAY XUL-XYm

更新日期：2024-07-08

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X射线荧光镀层测厚仪又名x-ray光谱仪，x射线合金测厚仪，射线荧光镀层分析仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，它结构紧凑，小巧耐用。它们十分适用于无损测量细小零部件上的镀层厚度和成分分析。

型号：XULM XULM-XYm

更新日期：2024-07-07

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X-RAY镀层测厚仪或称射线分析仪，德国*，全称为FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210，可以测量电镀层例如：铜、镍、铬、锌、锡、钛、金、银或者合金比如锌镍合金等等的镀层厚度以及成份，还可以进行电解液（电镀溶液）的测成份分析

型号：FISCHERSCOPE XDL210

更新日期：2024-07-07

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HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的处理和使用了的软件和硬件技术，FISCHER公司的X射线仪器具有其*的特点

型号：FISCHER

更新日期：2024-07-07

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